059 – FDTD案例:两个楔形硅波导耦合(只有模型文件)

基本介绍:

  • 主要内容:根据 2014 IEEE Photonics Conference 的会议论文《A low-loss, compact, broadband, polarization insensitive edge coupler for silicon photonics(作者:Arnab Dewanjee 等)》,复现了其中的 Fig.1c、Fig.2ab;
  • 基于 Lumerical FDTD Solution 求解,使用的软件版本为 Lumerical 2020 R2
  • 计算所需的内存:2 GB;
  • 涉及的内容:构建楔形几何结构、波导模式分析、模式光源、参数扫描、编写代码计算TE→TM的模式串扰 等;
  • 绘制了:有效折射率随波导宽度的变化、耦合损耗、编写代码计算模式串扰;
  • 注意:本案例仅包含模型文件,没有讲解视频。购买此案例不附带答疑指导。

包含的文件截图:

图片[1]-059 – FDTD案例:两个楔形硅波导耦合(只有模型文件)-光学仿真资料小站

详细描述:

图片[2]-059 – FDTD案例:两个楔形硅波导耦合(只有模型文件)-光学仿真资料小站

如上图所示,计算嵌在 SiO内部的两个楔形 Si 波导之间的耦合。图中 WTrans = 350 nm,L1 + L2 = 20, 30或40 um,L1:L2 = 7:3。

波长为 1.4 ~ 1.7 um 的入射光从左侧波导入射,计算耦合到右侧波导的损耗和模式串扰。

计算的内容和结果:

1、对于波导高度为150 nm和220 nm,以及入射模式为TE和TM四种情况,计算有效模式折射率随波导宽度的关系。(左:论文中的结果,右:本例的结果)👇

图片[3]-059 – FDTD案例:两个楔形硅波导耦合(只有模型文件)-光学仿真资料小站

2、以 L1 + L2 = 30 um为例,计算 1.4 ~ 1.7 um 波长范围内的耦合损耗。(左图红线:论文中的结果,右:本例的结果)👇

图片[4]-059 – FDTD案例:两个楔形硅波导耦合(只有模型文件)-光学仿真资料小站

3、当 L1 + L2 = 30 um 时,波长为 1.4 ~ 1.7 um 的TE光入射,计算串扰到TM模式的信号强度(图中纵坐标标为消光比)。(左图绿线:论文中的结果,右:本例的结果)(看上去本例的结果与论文有些偏差,实际上图中以dB为单位,串扰在-20 dB左右,即对应1%,在1%附近有些波动,这个计算误差是比较小的)👇

图片[5]-059 – FDTD案例:两个楔形硅波导耦合(只有模型文件)-光学仿真资料小站

付费后将能下载模型文件。

再次提醒:本案例仅包含模型文件,没有讲解视频。购买案例不附带答疑指导服务。
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